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電池芯脈沖測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)： 19311
所屬分類：電池測(cè)試及自動(dòng)化解決方案
產(chǎn)品時(shí)間：2020-02-27
簡(jiǎn)要描述：Chroma 19311系列電池芯脈沖測(cè)試儀是專門針對(duì)尚未注入電解液的鉛酸電池芯施加高壓脈沖來(lái)檢測(cè)正負(fù)極板之間的絕緣品質(zhì)。
Chroma 19311電池芯脈沖測(cè)試儀
19311-10機(jī)型具備10個(gè)通道，可利用掃描測(cè)試的方式做多通道切換輸出檢測(cè)，單機(jī)多可檢測(cè)9個(gè)電池芯。搭配A190362掃描治具，ZUI多可支援25通道，同時(shí)檢測(cè)24個(gè)電池芯。 19311-10機(jī)型可快速對(duì)多個(gè)電池芯做掃描測(cè)試，此優(yōu)勢(shì)大幅節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本，適合應(yīng)用在生產(chǎn)線上來(lái)提高產(chǎn)能。
在鉛酸電池尚未注入電解液前，對(duì)鉛酸電池芯做高壓脈沖測(cè)試的主要目的是為了檢測(cè)電池芯里正負(fù)極板之間的絕緣距離與品質(zhì)、隔離膜是否存在、以及正負(fù)極板之間是否有短路，借以找出劣質(zhì)或不良的電池芯。因此，使用脈沖測(cè)試的檢測(cè)方式可以提升鉛酸電池芯的品質(zhì)。
Chroma 19311電池芯脈沖測(cè)試儀可透過(guò)內(nèi)部電感與電池芯的諧振波形來(lái)分析電池芯的絕緣品質(zhì)差異。檢測(cè)的判定功能共有8種:面積比較(Area)、面積差比較(Diff-Area)、顫動(dòng)量偵測(cè)(Flutter)、二階微分偵測(cè)(Laplacian)、*電壓峰值判定(V1)、第三電壓峰值判定(V3)、波峰比(Peak Ratio)及波峰差比(ΔPeak %)。
脈沖測(cè)試
脈沖測(cè)試是將一個(gè) "非破壞性"、短暫且低能量的脈沖電壓施加在鉛酸電池芯上。當(dāng)施加脈沖測(cè)試時(shí)，由于19311/19311-10的內(nèi)部有一個(gè)諧振電感，所以電池芯會(huì)與內(nèi)部電感產(chǎn)生諧振。將測(cè)試的諧振波??形加以分析或與樣品的諧振波形進(jìn)行比對(duì)來(lái)判斷出鉛酸電池芯是否為良品。對(duì)尚未注入電解液的鉛酸電池芯做脈沖測(cè)試，主要是為了在注入電解液之前發(fā)現(xiàn)鉛酸電池芯是否有絕緣不良或是隔離膜不存在的問(wèn)題。在開(kāi)關(guān)打開(kāi)后，鉛酸電池芯與內(nèi)部電感諧振波形的電壓峰值衰減狀態(tài)代表著絕緣品質(zhì)的好壞。
八種判定功能
面積比較 (Area)
面積比較可用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯的正負(fù)極板之間是否絕緣不良或隔離膜不存在。面積比較是將測(cè)試的波形總面積與樣品的波形總面積做差異比較，總面積的差異表現(xiàn)出了電池芯絕緣程度的好壞。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣不良或是隔離膜不存在時(shí)，在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電，瞬間的能量釋放導(dǎo)致波形瞬間快速衰減， 所以測(cè)試的波形總面積會(huì)比樣品的波形總面積小。
面積差比較 (Differential Area)
面積差比較可用來(lái)檢測(cè)待測(cè)物電容量的差異。面積差比較是測(cè)試的波形與樣品的波形不重疊的面積所占的比例，此比例的大小代表著待測(cè)物的電容量與樣品的電容量的差異，當(dāng)電容量越大波形諧振的頻率會(huì)越低，電容量越小波形諧振的頻率越高。
顫動(dòng)量偵測(cè) (Flutter)
顫動(dòng)量偵測(cè)可以用來(lái)做接觸檢查。顫動(dòng)量偵測(cè)是利用一階微分的計(jì)算方式計(jì)算出波形所產(chǎn)生的總量，由于當(dāng)沒(méi)有碰觸好或是沒(méi)有接到待測(cè)物做測(cè)試時(shí)，電容量會(huì)比有接到待測(cè)物時(shí)還要小很多，所以波形諧振的頻率會(huì)非常高，導(dǎo)致波形的總量變大，因此可利用此特性來(lái)做接觸檢查的判斷。
二次微分偵測(cè) (Laplacian)
二次微分偵測(cè)可以用來(lái)偵測(cè)較小的放電。二次微分偵測(cè)是利用二次微分的計(jì)算方式，找出在脈沖測(cè)試的過(guò)程中是否有因?yàn)榘l(fā)生較小的放電，所造成測(cè)試波形發(fā)生的快速變化或快速轉(zhuǎn)折。
*電壓峰值 (V1)
諧振波形中的*個(gè)電壓峰值。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣不良或是隔離膜不存在時(shí)，在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電，會(huì)導(dǎo)致*個(gè)電壓峰值比樣品的*個(gè)電壓峰值低。
第三電壓峰值 (V3)
諧振波形中的第三個(gè)電壓峰值。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣不良或是隔離膜不存在時(shí)，在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電，能量的釋放會(huì)導(dǎo)致第三個(gè)電壓峰值的電壓比良品低。當(dāng)電池芯的絕緣品質(zhì)較差時(shí)，因?yàn)槟芰繐p失的較快也較多，也會(huì)導(dǎo)致第三個(gè)電壓峰值的電壓比良品低。
波峰比 (Peak Ratio)
波峰比是用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯正負(fù)極板之間的絕緣品質(zhì)。波峰比是波形的第五個(gè)電壓峰值與第三個(gè)電壓峰值的電壓比例，當(dāng)電池芯的等效并聯(lián)電阻(Rp)較小或絕緣的品質(zhì)較差時(shí)，因?yàn)槟芰繐p耗的較多、較快，導(dǎo)致第五個(gè)電壓峰值變得更小，所以絕緣品質(zhì)較差的波峰比會(huì)比絕緣品質(zhì)較好的波峰比更小。波峰比的大小表現(xiàn)出電池芯正負(fù)極板之間絕緣品質(zhì)的狀態(tài)。
波峰差比 (ΔPeak %)
波峰差比是用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯正負(fù)極板之間的絕緣品質(zhì)是否接近樣品的絕緣品質(zhì)。波峰差比為測(cè)試波形的波峰比與樣品波形的波峰比的差異，利用比??較的方式可以篩出絕緣品質(zhì)接近樣品絕緣品質(zhì)的產(chǎn)品。當(dāng)待測(cè)物的絕緣品質(zhì)與樣品的絕緣品質(zhì)一樣時(shí)，因?yàn)闇y(cè)試波形的波峰比與樣品波形的波峰比相同，所以波峰差比為0。當(dāng)待測(cè)物的絕緣品質(zhì)低于樣品的絕緣品質(zhì)時(shí)，因?yàn)闇y(cè)試波形的波峰比會(huì)比樣品波形的波峰比小，所以波峰差比為負(fù)數(shù)，表示待測(cè)物的絕緣品質(zhì)比樣品差。
產(chǎn)品應(yīng)用
接觸檢查 Contact Check
接觸檢查功能利用諧振頻率的差異來(lái)檢測(cè)是否有連接到待測(cè)物。由于當(dāng)沒(méi)有碰觸好或是沒(méi)有接到待測(cè)物做測(cè)試時(shí)，電容量會(huì)比有接待測(cè)物時(shí)還要小很多，所以波形諧振的頻率會(huì)變高，并可利用此頻率差異做檢測(cè)。使用者可依各自的需求對(duì)接觸檢查的靈敏度做調(diào)整，可將百分比的界線提高來(lái)增加接觸檢查的靈敏度或是將百分比的界線降低來(lái)減少接觸檢查的靈敏度。
崩潰電壓分析 Breakdown Voltage ( B.D.V)
19311 Series具有崩潰電壓分析功能，可設(shè)定起始電壓與結(jié)束電壓，利用電壓爬升過(guò)程偵測(cè)波形面積比(Area) 、二階微分偵測(cè)(Laplacian) 及波峰比(Peak Ratio)是否超過(guò)設(shè)定的限制，測(cè)試電池芯大可承受的脈沖測(cè)試電壓。研究人員可利用此功能對(duì)鉛酸電池芯進(jìn)行分析與研究，及制定制造生產(chǎn)時(shí)脈沖測(cè)試的檢測(cè)電壓。
10/25 通道掃描測(cè)試
19311-10 單機(jī)有10個(gè)通道可進(jìn)行掃描測(cè)試，ZUI多可以一次連續(xù)測(cè)試9個(gè)電池芯。搭配Scan Box(A190362)，可以擴(kuò)增通道數(shù)至25個(gè)通道一次ZUI多可連續(xù)測(cè)試24個(gè)鉛酸電池芯。
Screenshot 畫面擷取功能
操作者可以利用快捷鍵擷取操作當(dāng)下螢?zāi)簧纤@示的畫面，顯示畫面的截圖的會(huì)儲(chǔ)存于插置在19311上的USB 隨身硬碟。
Export 資料匯出功能
操作者可以利用Export功能將每一次測(cè)試的數(shù)據(jù)結(jié)果匯出并儲(chǔ)存于插置在19311/19311-10上的USB 隨身硬碟(USB flashdrive)。操作者亦可針對(duì)每一次的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。儲(chǔ)存檔案格式為CSV（Comma Separated Values）。
主要特色：
- ZUI高可輸出6kV脈沖測(cè)試 (依待測(cè)物的電容量決定)
- 可設(shè)定的脈沖間隔時(shí)間 30ms ~ 3000ms
- 八種判定功能:
- 面積比較
- 面積差比較
- 顫動(dòng)量偵測(cè) (接觸檢查)
- 二次微分偵測(cè)
- *電壓峰值
- 第三電壓峰值
- 波峰比
- 波峰差比 - 接觸檢查
- 崩潰電壓分析模式 (BDV Mode)
- 高取樣率(200MHz)
- 支援大25通道掃描測(cè)試 (19311-10搭配A190362選購(gòu))
- 英文/繁中/簡(jiǎn)中操作介面
- 支援USB隨身碟
- 波形、測(cè)試條件/結(jié)果儲(chǔ)存
- 畫面擷取
- 記憶體資料備份 - 圖形化彩色顯示
- 標(biāo)配LAN、USB、RS232控制介面
